详细介绍
产品介绍
LH3000FX图像分析系统由光学显微镜、数字CCD摄像头、图像处理与分析软件、电脑、打印机等部分组成。因为粉体形态各异，在借助激光粒度仪测试的同时，选用颗粒图像分析仪，可以更准确的直观粒度形貌，控制好产品质量。
应用领域
1、金刚石、碳化硅、硅灰石、石英粉、硫酸钡、石墨、钴酸锂、碳化硼、白刚玉、氧化铈云母粉、碳粉、金属粉等各种矿粉：
2、玻珠、水泥、药品、食品、颜料、粉尘、农药、催化剂等各种粉体或浆料。
3、也可以用于验证其他粒度测试的手段和方法。
参数指标
序号 | 项目 | 指标 |
1 | 分析项目 | 粒度分布、长径比分布、圆形度分布等 |
2 | 测试范围 | 0.5～3000μm |
3 | 放大倍数 | ≤4000倍 |
4 | 光学放大倍数 | 1600倍 |
5 | 分辨率 | ≤0.1μm |
6 | 显微镜 | 透反射工业显微镜 |
7 | 数字摄像头(CCD) | 1200万像素/1800万像素/2000万像素 |
8 | 目镜 | 10X 、16X |
9 | 物镜 | 5X 、10X 、40X、 60X；选配20X、50X、80X、100X |
10 | 标尺刻度 | 10μm |
11 | 软件运行环境 | Windows7 32位 |
12 | 接口方式 | USB接口高速稳定传输 |
实物设备现场图
标准配置 |
部件 | 规格 |
光学系统 | 无限远色差校正光学系统 |
观察筒 | 三目镜,倾斜30˚,(内置检偏振片,可进行切换) |
目镜 | 大视野 WF10X/22mm |
标配物镜 （无限远平场消色差物镜） | PL L5X/0.12 WD26.1 mm |
PL L10X/0.25 WD20.2mm |
PL L40X/0.60 WD3.98 mm |
PL L 60X/0.7 WD3.18 mm |
转换器 | 五孔(内向式滚珠内定位) |
调焦机构 | 粗微动同轴调焦, 微动格值:2μm,粗动松紧可调，带锁紧和限位装置 |
载物台 | 双层机械移动式载物台,外形尺寸:210mmX140mm,移动范围:63*50mm |
落射照明系统 | 6V30W卤素灯，亮度可调，配置黄、蓝、绿滤色片与磨砂玻璃片 |
内置视场光栏、孔径光栏、滤色片转换装置、推拉式检偏器与起偏器 |
透射照明系统 | 阿贝聚光镜NA.1.25可上下升降 |
集光镜中内置视场光栏,6V30W卤素灯、亮度可调 |
成像系统 | 1200万索尼芯片摄像装置、0.5X适配镜接口、测微尺，含显微图像软件。 |
选配配置 |
部件 | 规格 |
目镜 | 大视野WF10X/22mm，带十字分化尺 |
选配物镜 （无限远平场消色差物镜） | PL L20X/0.40 WD8.80 mm |
PL L50X/0.70 WD3.68 mm |
PL L 80X/0.80 WD1.25 mm |
PL L100X/0.85 WD0.40 mm |
专用分析软件 | 专用粒度分析软件 |
电脑 | 品牌商务电脑 |
专用粒度分析软件 －分析与处理功能
1.1 通过图像分析软件可直接观察显微镜下的颗粒形貌，并进行图片采集。图片可保存为JPG或BMP格式；软件采集图像后可调整图像高度、宽度、分辨率等。根据不同倍数物镜采集的图像可设置相应标尺或网格，直观颗粒大小。
1.2 自由切换粒径单位，标尺支持多种单位选择，可在微米和毫米、厘米、英寸之间自由切换，方便小颗粒和大颗粒的进一步处理。
1.3 图像分析处理
1.3.1 色调处理：灰度化、色调调整、亮度、对比度调整；
1.3.2 图像矫正：水平镜像、垂直镜像、90度（逆时针）、90度（顺时针）、旋转、放大、缩小、任意比例缩放等；
1.3.3 测量单位：微米、毫米、厘米、英吋（任选）；
1.3.4 图像增强：对比度均衡、膨胀、腐蚀等；
1.3.5 图像处理：图像锐化，边缘平滑，二值化，面积滤波、边界滤波，分析目标擦除、孔洞填充，手工擦除，手工连接，粒子属性查看等功能；
1.4 可以对多幅图形进行批量处理，增加颗粒数量，提高样品的代表性，使处理结果更加准确、真实、可靠。
1.5 软件功能强大，可根据行业特殊要求，设计磨料、硅灰石等专用软件。
2.报告输出
2.1 通过对图像进行处理后，电脑自动统计出颗粒个数、面积、周长、体积、直径、圆形度分布、长径比分布、粒度分布数据，以及D10、D50、D90、D97、平均粒径、表面积等特征值。
2.2 可将样品彩色缩略图显示到报告中，样品名称、测试单位、分散介质等多项信息输入到报告表头，可选多种报告格式。
